磁(cí)性測厚法是利(lì)用(yòng)電(diàn)度原理(lǐ)測定磁性(xìng)基體上元磁(cí)性塗(tú)層(céng)厚度的方法(fǎ)
。 該(gāi)法(fǎ)適用於(yú)磁(cí)性(xìng)基體(tǐ)上(shàng)的非(fēi)産性塗(tú)層或(huò)化學保護層(céng)的(dí)厚度測(cè)量
。

該法(fǎ)在測量前應在標(biāo)樣(yàng)上對儀器進行係(xì)統(tǒng)調(tiáo)節,從而(ér)確保(bǎo)其測(cè)量(liáng)精度
。 也可(kě)在無(wú)塗(tú)層基體上送行調(tiáo)節,此(cǐ)時應(yīng)對(duì)標(biāo)樣和無塗層基(jī)體進行(háng)置零比(bǐ)較(jiào),其厚(hòu)度差(chà)稱為修(xiū)正(zhèng)值(zhí),供(gōng)需雙方統(tǒng)一(yī)試樣，統一方(fāng)法,從而(ér)確定修正(zhèng)值
。 采用磁性法(fǎ)測定法層(céng)厚度(dù)時,按(àn)下述(shù)一些慣(guàn)例進行(háng)
。

基(jī)準(zhǔn)麵為(wéi)1cm²時
，最小局(jú)部厚度的(dí)測量(liáng)見(jiàn)下(xià)表：

注：1，曲(qū)麵探頭與(yǔ)塗(tú)層(céng)表麵(miàn)的(dí)接(jiē)觸為1點(diǎn)
，圖(tú)中用“×"表(biǎo)示(shì)；

        2，扁平探(tàn)頭與塗(tú)層(céng)表麵(miàn)的接(jiē)觸(chù)為1麵
，圖(tú)中用“○"表示
，扁平(píng)探頭(tóu)的麵積應小於φ 3mm的圓(yuán)麵(miàn)積
。

基(jī)準麵(miàn)為(wéi)1dm²時
，無(wú)論采(cǎi)用什(shí)麼型(xíng)號的(dí)儀(yí)器(qì)以(yǐ)及何(hé)種(zhǒng)探(tàn)頭(tóu)測量
，均(jūn)按圖(tú)所示(shì)10點法(fǎ)
，在(zài)該(gāi)基準(zhǔn)麵上做(zuò)10次測(cè)量
，取其平(píng)均(jūn)值
。

影(yǐng)響(xiǎng)測量值的因素(sù)：

1，塗層本(běn)身(shēn)某些(xiē)因(yīn)素(sù)影響(xiǎng)
，如厚(hòu)度，電(diàn)導率和表麵(miàn)粗(cū)糙度(dù)；

2，基體金屬(shǔ)本身某(mǒu)些(xiē)因素(sù)影響
，如(rú)厚度，磁(cí)性(xìng)，曲(qū)率，表(biǎo)麵粗糙度(dù)，機械(xiè)加(jiā)工方向(xiàng)和(hé)剩磁等；

3，外來因素的影響
，如(rú)周圍的(dí)磁場(cháng)和(hé)外(wài)來(lái)附著(zhuó)物等；

4，測(cè)量(liáng)技巧(qiǎo)的影(yǐng)響
，如探(tàn)頭壓力(lì)
，探頭取向和(hé)邊(biān)緣(yuán)效(xiào)應等
。

上述(shù)各(gè)因素的影響應按GB 4956的(dí)規(guī)定予以(yǐ)排(pái)除(chú)和(hé)校(xiào)正
。