一，代理資質(zhì)

• shou權主(zhǔ)體(tǐ)：玉崎(qí)科學(xué)儀器（深圳(zhèn)）有限(xiàn)公司(sī)，為京都玉崎(qí)集團旗下(xià)專(zhuān)注科學儀器的子公司(sī)。

• 代理(lǐ)範(fàn)圍(wéi)：負責大塚(zhǒng)電子(zǐ)全(quán)係列(liè)光學測量儀器在(zài)中國區的(dí)銷(xiāo)售，技術支持與(yǔ)售(shòu)後服務。

• 服(fú)務網(wǎng)絡：依托京都(dū)玉崎在深圳，蘇州，北京，成都(dū)等(děng)地(dì)的(dí)分(fēn)支(zhī)機(jī)構，提(tí)供本地(dì)化(huà)服務(wù)。

二(èr)，OTSUKA 大塚(zhǒng)電子簡(jiǎn)介(jiè)

三，核心產品(pǐn)係(xì)列

1. 膜(mó)厚(hòu)測量(liáng)設備（主(zhǔ)打(dǎ)）

• SF-3 分光幹(gān)涉(shè)晶圓膜(mó)厚儀：非接觸(chù)，超(chāo)高速(sù)（10ms），用(yòng)於半(bàn)導體(tǐ)晶(jīng)圓背麵(miàn)研(yán)磨(mó) / 減薄製程在(zài)綫監控(kòng)。

• OPTM 係(xì)列顯(xiǎn)微(wēi)分光膜厚(hòu)儀：1nm 級(jí)精(jīng)度(dù)，適用於(yú)極薄多層(céng)膜測量(liáng)。

• SM-100S/SM-100P 手(shǒu)持(chí)智(zhì)能(néng)膜(mó)厚(hòu)儀：便(biàn)攜，非(fēi)破壞，適合現場(cháng)快速(sù)檢測。

2. 納米顆粒分(fēn)析(xī)設備(bèi)

• ELSZ-neo 粒(lì)徑 /ζ 電(diàn)位(wèi)分(fēn)析儀(yí)：動態光散(sàn)射技術，測(cè)量(liáng)納米顆粒尺寸，分布及(jí)表麵電(diàn)位。

• nanoSAQLA 多樣品(pǐn)自動(dòng)粒徑分析儀(yí)：高通量(liáng)，一次可測 50 個(gè)樣(yàng)品(pǐn)。

3. 光學特(tè)性評(píng)估設備

• MCPD 係列(liè)分光(guāng)光(guāng)譜(pǔ)儀(yí)：用(yòng)於 LED，OLED，顯(xiǎn)示麵(miàn)板的(dí)光(guāng)學特(tè)性與量(liáng)子(zǐ)效率測量。

• 相位差膜(mó) / 偏光片(piàn)檢(jiǎn)測(cè)設(shè)備(bèi)：服務(wù)於液晶(jīng)顯示行(háng)業(yè)。