credence推出(chū)的(dí)sapphire d-10是為(wéi)滿足(zú) 消(xiāo)費電子(zǐ)產品(pǐn)市場(cháng)的低成本(běn)測試(shì)需求(qiú)而設計的(dí)混合(hé)信(xìn)號ic測(cè)試(shì)係(xì)統。sapphire d-10是一個高產(chǎn)能，多(duō)功能(néng)的圓(yuán)片和封裝(zhuāng)測(cè)試解(jiě)決(jué)方(fāng)案，該(gāi)方案(àn)是(shì)為微(wēi)控製(zhì)器，無(wú)綫(xiàn)基帶，顯(xiǎn)示驅動(dòng)器和(hé)消費類混(hùn)合(hé)信號器件(jiàn)的低(dī)成本(běn)測(cè)試解決方案(àn)而特別設計的(dí)。它具(jù)有集(jí)成度(dù)高，體(tǐ)積小，模(mó)塊化(huà)，較高(gāo)的並行(háng)測(cè)試(shì)能(néng)力等(děng)特點。 緊(jǐn)湊(còu)，高(gāo)集(jí)成的設計(jì)平(píng)衡成本(běn)和性能(néng)——sapphire d-10體積小巧，比一台中型個人(rén)電(diàn)腦大不了多(duō)少(shǎo)，它不需(xū)要任何(hé)復(fù)雜的(dí)固(gù)定器(qì)械和(hé)環境設(shè)施(shī)，把(bǎ)它支起來，插上電(diàn)源(yuán)就能馬(mǎ)上使用(yòng)，因而(ér)具有很(hěn)好的(dí)便(biàn)攜性，同一(yī)平(píng)台既(jì)能(néng)應用於桌麵的調試(shì)開發(fā)和(hé)特性(xìng)分析(xī)，也能應(yīng)用於量產測試。sapphire d-10含有(yǒu)高密度(dù)和高效的(dí)數字(zì)，模擬(nǐ)和電源通(tōng)道。它(tā)支持768個數字通(tōng)道(dào)和16個(gè)電(diàn)源(yuán)通道。同(tóng)時其集成的(dí)混和(hé)信(xìn)號技術(shù)在(zài)同(tóng)一(yī)儀器上(shàng)就能提供應對高精(jīng)度和高頻(pín)率的(dí)方(fāng)法。對於大範(fàn)圍的產(chǎn)品測試來說(shuō)，一(yī)個寬頻，高效的設備(bèi)能有(yǒu)效(xiào)降低測(cè)試(shì)成本(běn)。在(zài)多種芯(xīn)片(piàn)需(xū)要同時被測(cè)試的(dí)情況下，采用一(yī)款這樣(yàng)的係統能(néng)大大節省(shěng)用(yòng)戶的(dí)測試(shì)成本。高(gāo)密(mì)度數(shù)字儀(yí)器(qì)，多頻段(duàn)混和信號(hào)儀器也使(shǐ)得(dé)測試(shì)係(xì)統的配置簡化，因(yīn)為需(xū)要(yào)更(gēng)少的儀(yí)器來(lái)達到(dào)需要的測試能力。高集(jí)成的(dí)設(shè)備(bèi)也(yě)更簡化了(liǎo)負載(zǎi)板，docking接(jiē)口和manipulator接口(kǒu)的設(shè)計。高集成(chéng)度同時也(yě)能大幅減少(shǎo)設(shè)計(jì)時需要的(dí)元件(jiàn)，最終(zhōng)降(jiàng)低測試平台(tái)的(dí)成本。而(ér)且(qiě)，更少(shǎo)的元(yuán)件意味著(zhuó)更高的穩(wěn)定性和更短(duǎn)的停(tíng)機時間，從而(ér)進(jìn)一(yī)步降低(dī)客戶總(zǒng)的(dí)測(cè)試(shì)成(chéng)本(běn)。並(bìng)行測試(shì)能力加速高量(liáng)產(chǎn)測(cè)試(shì)——並行測試是(shì)通過同(tóng)時測(cè)試多個芯片(piàn)來(lái)降低測試(shì)成本的有(yǒu)效方法(fǎ)。sapphire d-10最(zuì)多能(néng)進(jìn)行256個芯(xīn)片(piàn)同測。而且(qiě)非常適(shì)合(hé)多site圓(yuán)片(piàn)測(cè)試(shì)，因(yīn)為它(tā)能(néng)提供768個200mbps的數字通道(dào)和(hé)高集成度的(dí)模擬(nǐ)和(hé)數(shù)模混(hùn)合(hé)儀器(qì)。許(xǔ)多(duō)傳統(tǒng)的測(cè)試係(xì)統在(zài)測試數字器(qì)件時能提供(gōng)較(jiào)高的並(bìng)行效率，但測試(shì)模擬和(hé)混(hùn)合信(xìn)號器(qì)件(jiàn)時會大(dà)大(dà)降低。這(zhè)通(tōng)常是(shì)由於本地或遠(yuǎn)程的(dí)大(dà)量(liáng)的數據傳(chuán)送處理而(ér)造成(chéng)的。sapphire d-10的交換(huàn)式數(shù)據傳輸（switched data link）專為(wéi)解(jiě)決這個(gè)問題(tí)而設計(jì)，它能(néng)快(kuài)速地(dì)傳送(sòng)大(dà)的(dí)數據(jù)包，並高效地進行(háng)處(chǔ)理。采用業界標準(zhǔn)的(dí)模塊(kuài)化(huà)架(jià)構具有(yǒu)很大(dà)靈(líng)活性(xìng)——可再配(pèi)置的sapphire d-10測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)能靈(líng)活(huó)應(yīng)對多種(zhǒng)類產品(pǐn)測試，優(yōu)化使用(yòng)工廠或(huò)實驗室空(kōng)間(jiān)。擁有(yǒu)十(shí)個可(kě)互換的儀(yí)器插(chā)槽，開(kāi)放式結(jié)構支持(chí)即插(chā)即用(plug and play)以(yǐ)及(jí)通用(yòng)插(chā)槽功能，使得從工程(chéng)應用到產品(pǐn)並(bìng)行測試或從數(shù)字到(dào)混和信號應(yīng)用非(fēi)常易於(yú)拓(tuò)展(zhǎn)。該(gāi)係統(tǒng)的儀器(qì)都(dū)兼容(róng)cpci 背板(bǎn)協(xié)議(yì)，因而(ér)具有(yǒu)很大的靈(líng)活(huó)性。基於這個開(kāi)放式(shì)的架構，用戶(hù)能(néng)方(fāng)便使(shǐ)用第三方成熟儀器(qì)定製自己的(dí)配(pèi)置，進一(yī)步(bù)拓(tuò)展了(liǎo)平台的靈(líng)活性和(hé)生命周(zhōu)期。同(tóng)時(shí)，用(yòng)戶可(kě)通(tōng)過(guò)集成(chéng)自(zì)定(dìng)製儀(yí)器(qì)到(dào)平(píng)台中(zhōng)來實現(xiàn)一些(xiē)特殊功能和特(tè)性(xìng)分析測(cè)試的(dí)需求。此外，sapphire d-10具有(yǒu)高(gāo)速的底(dǐ)層數據交換(huàn)網絡(luò)，使數據能(néng)夠以(yǐ)500m字(zì)節(jié)/秒(miǎo)的速度在整(zhěng)個(gè)係統內(nèi)傳(chuán)輸(shū)，同時(shí)又(yòu)不(bù)明(míng)顯(xiǎn)增加主機負擔(dān)。sapphire d-10還有一(yī)整(zhěng)套(tào)為測試(shì)程序開發(fā)，調試，產(chǎn)品特性分(fēn)析(xī)以(yǐ)及量產(chǎn)而設(shè)計的專用軟(ruǎn)件。它的軟件(jiàn)采(cǎi)用開(kāi)放式(shì)結構(gòu)，很容(róng)易訪問(wèn)底層代碼，方便自(zì)定製程序編(biān)寫。d-10有(yǒu)自帶的產品測(cè)試界麵，但同(tóng)時也(yě)允許客戶和(hé)現場人(rén)員設計(jì)自(zì)己的(dí)界麵(miàn)，在工廠(chǎng)進行無(wú)縫連(lián)接(jiē)。