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技(jì)術(shù)文(wén)章(zhāng)/ Technical Articles
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更新(xīn)時(shí)間(jiān):2024-09-03
瀏覽(lǎn)次(cì)數:1543SLD光源是一(yī)種寬(kuān)帶(dài)光(guāng)源,兼具發(fā)光(guāng)二(èr)極管(guǎn)(LED)和半(bàn)導體激光(guāng)器(qì)(LD)的特性。
SLD是(shì)“超(chāo)發光二(èr)極管"的縮寫,它具有(yǒu)像發光二(èr)極管一樣(yàng)的(dí)寬(kuān)光(guāng)譜(pǔ)和(hé)像半導(dǎo)體(tǐ)激光器(qì)一(yī)樣的高強度光(guāng)。
然(rán)而,與(yǔ)半(bàn)導(dǎo)體激光器不(bù)同(tóng),它們(mén)的(dí)特點之一(yī)是(shì)相幹(gān)性低。由於這些(xiē)特性(xìng),SLD 被(bèi)廣(guǎng)泛應用(yòng)於測(cè)量機(jī)器(qì)和傳(chuán)感器設備(bèi)。
SLD光源(yuán)的(dí)應用(yòng)
SLD光(guāng)源利(lì)用了LED和(hé)LD的兩(liǎng)個(gè)特(tè)性(xìng),應用於以下(xià)器(qì)件中。
1.華僑城(chéng)
也稱為光學相(xiāng)幹斷(duàn)層儀,是(shì)一(yī)種(zhǒng)利用光學(xué)幹涉(shè)來(lái)測(cè)量物(wù)體斷(duàn)層(céng)圖像的(dí)設備。您可以在不接(jiē)觸物體(tǐ)的情況下測量其(qí)內部。它(tā)還(huán)具有比(bǐ)X射(shè)綫(xiàn)分辨率(shuài)更高(gāo)的(dí)優點(diǎn),還可以用來(lái)觀(guān)察(chá)內(nèi)髒器(qì)官,而(ér)且(qiě)沒有(yǒu)輻射暴露的風險,因(yīn)此被(bèi)廣(guǎng)泛用於(yú)醫療(liáo)目(mù)的。
2. 原(yuán)子力顯微(wēi)鏡
通過(guò)在(zài)材料表麵移(yí)動(dòng)指針(zhēn)並測(cè)量作用在指(zhǐ)針(zhēn)和材料之(zhī)間(jiān)的(dí)原(yuán)子(zǐ)力(lì)來觀察表麵(miàn)狀(zhuàng)況(kuàng)的(dí)顯(xiǎn)微鏡。它的(dí)分(fēn)辨率比(bǐ)光(guāng)學顯(xiǎn)微(wēi)鏡高得多(duō),甚(shèn)至可以在(zài)原子(zǐ)水平上看到(dào)表(biǎo)麵(miàn)的不規(guī)則(zé)性。
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