即使相(xiāng)同的塗(tú)層測厚儀，不同(tóng)的(dí)人或對(duì)不(bù)同(tóng)種類，狀態基(jī)材上(shàng)的相(xiāng)同(tóng)塗層測量(liáng)出來的(dí)數據也(yě)可(kě)能(néng)會存在較大差(chà)別，這是(shì)因為(wéi)測量(liáng)人員因素，測(cè)量漆膜的基體(tǐ)材(cái)質，厚度，表麵狀況以及測(cè)量位(wèi)置(zhì)等造成(chéng)的(dí)。因(yīn)此，在(zài)使(shǐ)用測厚儀檢(jiǎn)測(cè)塗(tú)層(céng)厚度(dù)時，不僅操(cāo)作(zuò)方法要正確(què)，還(huán)需(xū)要針對(duì)具體基(jī)材進(jìn)行(háng)調整。

使(shǐ)用(yòng)前應仔細(xì)閱讀儀器使(shǐ)用說明書

不同廠(chǎng)家，不(bù)同品牌(pái)的儀器(qì)在(zài)結構(gòu)，按(àn)鍵(jiàn)，校準等方麵(miàn)各不(bù)相同，因此使用(yòng)前(qián)需(xū)要先仔(zī)細閱讀(dú)儀器的(dí)使(shǐ)用說(shuō)明書，避(bì)免(miǎn)誤操作造(zào)成測(cè)量(liáng)數據(jù)的錯誤。

注意金屬基體(tǐ)材(cái)質(zhì)

不同(tóng)金屬基(jī)體(tǐ)材料(liào)的磁性(xìng)，導電率是不(bù)相同的，這都(dū)會對(duì)測量結果造成影響(xiǎng)[9]。采用(yòng)磁(cí)性(xìng)法測(cè)厚(hòu)受基體(tǐ)金(jīn)屬磁(cí)性變化的影響（在實(shí)際(jì)應用中，低碳(tàn)鋼磁性(xìng)的變化可以認(rèn)為是(shì)輕(qīng)微的），為了避免(miǎn)熱處理(lǐ)和冷加工因(yīn)素的影響，應使用與(yǔ)試件(jiàn)基體(tǐ)金屬具有相同(tóng)性質(zhì)的(dí)標(biāo)準片對儀器進(jìn)行(háng)校準(zhǔn)，亦(yì)可用(yòng)待塗覆(fù)試(shì)件進行(háng)校(xiào)準。由於基(jī)體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)的成分(fēn)及熱(rè)處(chǔ)理方(fāng)法不(bù)同，導致其電導率不同(tóng)，因此應使(shǐ)用與被檢測(cè)試件基(jī)體(tǐ)金屬具有(yǒu)相同(tóng)性質的標(biāo)準片對儀器(qì)進(jìn)行校準(zhǔn)。

注(zhù)意檢測試(shì)件(jiàn)形(xíng)狀

在(zài)實(shí)際(jì)生產中(zhōng)，工(gōng)件的(dí)材(cái)料(liào)厚(hòu)度(dù)，形狀，表麵粗(cū)糙(cāo)度等(děng)存在差異(yì)，這(zhè)些(xiē)差異會(huì)對實(shí)際測量結(jié)果造(zào)成影(yǐng)響。每一(yī)種儀器(qì)都有一(yī)個基(jī)體(tǐ)金屬的臨界厚(hòu)度(dù)，大(dà)於(yú)這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金(jīn)屬厚(hòu)度的影響(xiǎng)，如(rú)果試件材料厚(hòu)度小(xiǎo)於儀器(qì)所(suǒ)要求(qiú)的臨界厚度，檢測結果就(jiù)會與實(shí)際厚(hòu)度有(yǒu)差(chà)別。一些儀器對試(shì)件表麵形狀(zhuàng)的陡變十(shí)分敏(mǐn)感，因(yīn)此在靠近試(shì)件(jiàn)邊(biān)緣或內轉角(jiǎo)處進行測(cè)量(liáng)的(dí)數值(zhí)會(huì)不可(kě)靠(kào)，實(shí)際(jì)測(cè)量(liáng)時應(yīng)選(xuǎn)擇遠離(lí)邊(biān)緣(yuán)和內轉(zhuǎn)角的(dí)部位。試(shì)件表麵不僅(jǐn)存(cún)在形狀的(dí)陡變，還(huán)可能(néng)存在不同(tóng)的曲率，一(yī)些儀(yí)器的(dí)測(cè)量結果總(zǒng)是(shì)隨著曲率(shuài)半(bàn)徑的減小(xiǎo)明顯地增(zēng)大。因此，即(jí)使(shǐ)在選擇儀器(qì)時(shí)考慮了最(zuì)小曲率半(bàn)徑(jìng)，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡(jìn)可(kě)能選擇(zé)在平麵(miàn)部(bù)位(wèi)進行(háng)測(cè)量。

以上也是在選(xuǎn)擇(zé)測厚儀器(qì)時需要考慮(lǜ)最(zuì)小曲(qū)率半(bàn)徑(jìng)，最(zuì)小測量(liáng)麵積(jī)，最小基(jī)體厚(hòu)度(dù)的原因。

另外(wài)，實際生產中，不同(tóng)工件的表(biǎo)麵粗(cū)糙度也不盡(jìn)相(xiāng)同(tóng)。粗(cū)糙程(chéng)度(dù)越(yuè)大，對(duì)一些儀器(qì)的測量結果影響越(yuè)大。粗(cū)糙(cāo)表麵會引起係(xì)統誤差(chà)和(hé)偶然(rán)誤(wù)差(chà)，每次(cì)測(cè)量時，在不同(tóng)位置上應增加(jiā)測(cè)量的次數，以(yǐ)克服(fú)這(zhè)種偶然(rán)誤(wù)差。這一(yī)點，很多(duō)廠家的儀器使(shǐ)用說(shuō)明書裏(lǐ)都沒(méi)有(yǒu)指(zhǐ)出(chū)。我(wǒ)們分(fēn)別用(yòng)國產和進口測(cè)厚儀在平(píng)麵上校(xiào)準(zhǔn)後測(cè)量(liáng)拋(pāo)丸後(hòu)的表麵，讀數(shù)在10 ~ 30 μm 不等。也(yě)就是說，如果按此(cǐ)方法，測(cè)量出來的數(shù)據比漆膜(mó)的實(shí)際厚度會大10 ~ 30 μm，即漆(qī)膜實(shí)際厚(hòu)度(dù)達不(bù)到設計要求。因此，如果(guǒ)基體金屬粗糙，還需要(yào)在(zài)未塗(tú)覆的粗(cū)糙(cāo)度相(xiāng)類(lèi)似的基體金屬試(shì)件上(shàng)取(qǔ)幾個(gè)位置來(lái)校對(duì)儀器(qì)的零(líng)點(diǎn)
；或用(yòng)對基(jī)體(tǐ)金屬沒有(yǒu)腐蝕的(dí)溶(róng)液溶解除(chú)去塗(tú)層(céng)後(hòu)，再(zài)校對(duì)儀器的(dí)零點(diǎn)。當然(rán)，當漆膜(mó)厚度為(wéi)基(jī)材(cái)表麵粗(cū)糙度(dù)的(dí)5 ～ 6 倍(bèi)時(shí)，可以將(jiāng)粗糙(cāo)度忽(hū)略(lüè)。總之，儀(yí)器的校準(zhǔn)需要依據(jù)現場被塗工件表(biǎo)麵粗糙(cāo)度來(lái)進(jìn)行。

檢(jiǎn)測環境

周(zhōu)圍各種電氣設備所產生的強磁場(cháng)，會嚴重(zhòng)地幹(gān)擾磁性法(fǎ)測厚工(gōng)作(zuò)，使用時應(yīng)盡(jìn)量遠(yuǎn)離強磁(cí)場(cháng)環(huán)境。

操(cāo)作(zuò)

一些儀器(qì)對(duì)那些妨礙(ài)測(cè)頭與(yǔ)漆膜表(biǎo)麵緊(jǐn)密(mì)接觸的(dí)附著物(wù)質比較(jiào)敏(mǐn)感，因(yīn)此，需要(yào)清除附(fù)著物質(zhì)，進而保(bǎo)證(zhèng)儀(yí)器(qì)測(cè)頭(tóu)和被(bèi)測試件表麵直接接觸。測(cè)頭(tóu)放置到試(shì)件上(shàng)所(suǒ)施加的壓力(lì)大(dà)小(xiǎo)會(huì)影響測(cè)量(liáng)的讀數，因此，要保持壓(yā)力恒定。測(cè)頭的(dí)放(fàng)置(zhì)方(fāng)式對測量也有(yǒu)影(yǐng)響(xiǎng)，在測量中，應(yīng)當(dāng)使(shǐ)測頭與(yǔ)試樣(yàng)表麵保(bǎo)持垂直。另(lìng)外，通常儀器的(dí)每(měi)次讀數並不(bù)相同(tóng)，因此需要在每一測量麵積(jī)內多(duō)讀取(qǔ)幾(jī)個數。漆膜(mó)厚(hòu)度(dù)的局部(bù)差(chà)異，也要(yào)求(qiú)在任一給定(dìng)的(dí)麵(miàn)積內進(jìn)行(háng)多次測量(liáng)，表麵粗糙時更(gēng)應(yīng)如(rú)此(cǐ)。