測(cè)量(liáng)鍍層(céng)厚(hòu)度的方法(fǎ)很(hěn)多，按照(zhào)測(cè)量形(xíng)式的不(bù)同，可以分為無損(sǔn)法(fǎ)和破壞(huài)法二(èr)類；如果根(gēn)據測量原(yuán)理的不同(tóng)來分(fēn)，則(zé)可分為(wéi)磁(cí)性法（如(rú)磁性(xìng)法(fǎ)，渦流(liú)法等），電解法（如陽極溶(róng)解庫倫法），化(huà)學法(fǎ)（如計時(shí)液(yè)流(liú)法(fǎ)，點滴(dī)法，溶解稱重法等(děng)），射綫(xiàn)法(fǎ)（如背反射法，X射綫熒光法(fǎ)等），光(guāng)學法（如輪廓尺寸(cùn)測量(liáng)法(fǎ)，雙光束(shù)顯微(wēi)鏡(jìng)法），機械(xiè)法(fǎ)（使(shǐ)用(yòng)機械量(liáng)具(jù)測量）等(děng)多(duō)種(zhǒng)
。這些(xiē)測量方法各有它(tā)自(zì)己的特(tè)點(diǎn)，適用範圍(wéi)和測(cè)量誤(wù)差(chà)範(fàn)圍
。

GB6463-B6《金屬和其他(tā)無機(jī)覆(fù)蓋層厚(hòu)度(dù)測量(liáng)方法評(píng)述》評述了(liǎo)金屬(shǔ)和(hé)非金屬基(jī)體(tǐ)上的(dí)金屬和其他(tā)無機覆量(liáng)層厚度的(dí)測量(liáng)方法,可以(yǐ)作(zuò)為選(xuǎn)擇厚(hòu)度測量(liáng)方(fāng)法的依據(jù)
。常用的厚(hòu)度(dù)測量方法有(yǒu):

(1)磁性金(jīn)屬基體上(shàng)非(fēi)磁性覆(fù)蓋(gài)層(céng)厚(hòu)度測量方(fāng)法
。

(2)磁性和非(fēi)磁(cí)性(xìng)金(jīn)屬(shǔ)基(jī)體(tǐ)上鎳電鍍層(céng)厚度測量方(fāng)法
。

(3)非(fēi)磁(cí)性金(jīn)屬基體上非(fēi)導電覆蓋(gài)層(céng)厚度(dù)測量方(fāng)法
。

(4)鍍(dù)層厚(hòu)度(dù)陽極(jí)溶(róng)解庫(kù)合測量法(fǎ)
。

(5)鍍層(céng)厚(hòu)度溶(róng)解(jiě)稱重測量方(fāng)法
。

(6)鍍層(céng)厚(hòu)度(dù)金相(xiāng)顯微(wēi)鏡測(cè)量方法(fǎ)
。

(7)鍍(dù)層(céng)厚度(dù)x射(shè)綫(xiàn)熒光測量方法(fǎ)
。

(8)鍍層厚度(dù)輪廓(kuò)尺寸測量方(fāng)法
。

(9)雙光(guāng)束(shù)顯微鏡厚(hòu)度(dù)測量(liáng)方法
。

在(zài)選(xuǎn)擇(zé)測(cè)量方法時(shí),應盡量采用標準(zhǔn)的(dí)方法測量厚(hòu)度(dù),有利於測量結果之可靠性,有利於數據的(dí)對比;測(cè)量(liáng)貴(guì)金(jīn)屬(shǔ)，大(dà)型鍍(dù)件或(huò)單個鍍表麵(miàn)上的(dí)鍍(dù)層(céng)厚度(dù)時(shí),宜選(xuǎn)用無損方法；根據我們想(xiǎng)要(yào)知(zhī)道的(dí)鍍層(céng)厚度(dù)是平(píng)均厚(hòu)度(dù):還(huán)是(shì)局部厚度來(lái)進擇(zé)測(cè)厚(hòu)方法;根據(jù)鍍層厚度的大(dà)小(xiǎo)來選擇測厚的方法(fǎ)
。